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Ｘ熒光光譜儀EDX860D

型 號：EDX860D

產品說明、技術參數及配置

 本儀器專門針對貴金屬測試，可測試環形樣品內壁及普通平面測試，具有以下特點：體積小巧，外型莊重大方，手動升降平臺滿足不同大小樣品的測試，樣品固定方便快捷，可方便更換準直器，準直器直徑為1.5mm，可測試較小區域，下照式，大窗口正比計數盒計數率滿足分析需要，寬闊樣品腔可滿足較大樣品的測試，攝像頭激光精確定位實現可視化定位，良好的射線屏蔽確保操作人員。

應用領域首飾加工廠 金銀珠寶首飾店 貴金屬冶煉廠 質量檢驗部門 分析測試中心 典當行

XRF檢測法與傳統檢測法比較

核心技術

1.大功率光管；2. 超大窗口面積正比計數盒； 3. 外型小巧，莊重大方； 4. 寬闊樣品腔，方便操作及測試較大樣品； 5. 手動升降平臺確保測試不同大小環狀樣品； 6．小準直器，利于測試樣品小區域； 7. 攝像頭與激光定位，可視地定位到被測點，測試時激光點自動關閉，利于拍攝清晰照片； 8. 良好的射線屏蔽確保操作人員的安全。

儀器技術指標：

分析含量一般為1ppm到99.9％； 任意多個可選擇的分析和識別模型； 相互獨立的基體效應校正模型； 多變量非線性回歸程序； 多次測量重復性可達0.1％； 工作穩定性為0.1％。 電源：交流220V±5V； 測量時間：60-200S 管壓：5-50KV 管流：50-1000μA 溫度適應范圍：15℃-30℃

標準配置：

正比計數盒；50W X光管； 高壓電源 50kV@1mA；攝像頭激光定位裝置； 高靈敏度信號檢測電子電路；手動升降平臺； 樣品夾；橡皮泥； 準直器直徑為1.5 mm。