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6a-ut智聯型超聲波探傷儀是科電儀器基于安卓系統研發的智能探傷終端。本儀器具備無線通信功能，可實現遠程交互和云檢測；ips高清彩屏的觸控和實體按鍵相結合，讓人機交互更方便；可提供專業化的量身定制服務，無線升級更高效；機殼采用防水、防塵、防摔設計，可適應各種復雜的工業現場
更新時間:2025-06-11
.kv-3000a測振儀是用于現場機械振動測量與分析應用的便攜式測振儀。它運用快速傅里葉變換(fft)，將時域信號變換為頻域信號進行分析，能快速判定故障原因與位置。
更新時間:2025-06-11
kodin-3000hmc是一款高精度智能型超聲波測厚儀，它采用的高速數據采集技術，具有a掃，b掃，數值模式和usb通信等功能于一身。增益實時可調，適用于檢測比較薄的鋼板，滅火器等厚度測量
更新時間:2025-06-11
超聲波測厚儀hch-30000e/e可有效穿透涂層對基體進行測厚，該款儀器是科電公司經過半年的努力自主研發推出的新品。hch-3000e/e采用了單片機與cpld綜合系統的技術，集發射-回波模式與回波-回波模式于一身的智能型超聲波測厚儀。它具有輕便且符合人體工程學的單手操作設計，為許多需要對疑為帶有涂層的金屬壁變薄的材料所進行的快速檢測應用，提供了性價比極高的測量解決方案。
更新時間:2025-06-11
kodin-h600a配備了進口光電傳感器的便攜式黑白透射密度計。該款密度計內部配有大容量li-ion鋰離子電池。充滿一次電，在打開觀片區光源時可供連續工作4小時以上，在關閉觀片區光源時可連續工作24小時以上。該款密度計是科電公司通過大量試驗，研制的一款高精密儀器。該款密度計具有體積小、重量輕、操作簡單、攜帶方便、測量準確度高、長期穩定性好等特點。
更新時間:2025-06-11
涂(鍍)層測厚儀是一款基于安卓系統的智能涂(鍍)層厚度檢測終端。本儀器具備無線通信功能，可以實現遠程音頻、視頻數據的交互;本儀器可以實現實時專家診斷、遠程數據檢測等功能;本儀器機殼防護采用了防水、防塵、防摔的三防設計，可以適應復雜的工業現場。
更新時間:2025-06-11
超聲波測厚儀是科電儀器基于安卓系統研發的智能測厚終端。本儀器具備無線通信功能；可實現遠程交互和云檢測，儀器內置“科信”云平臺可以把測量的數據/視頻分享給科信工友，實現遠程實時協同作業，機殼采用防水、防塵、防摔的設計可以適應各種復雜的工業現場。
更新時間:2025-06-11
出租agilent usb3.0測試夾具u7242-26401
更新時間:2025-06-11
misenbo 硬件開放實驗室 開放實驗室 硬件實驗室 ets-lindgren 7405近場探頭 儀器資訊
更新時間:2025-06-11
misenbo 硬件開放實驗室 開放實驗室 硬件實驗室 nemtest dito 靜電放電模擬器 儀器資訊
更新時間:2025-06-11
cie2.0 3.0 物理層致性測試pcie總線與pci總線不同，pcie總線使用端到端的連接方式，在條pcie鏈路的兩端只能各連接個設備，這兩個設備互為是數據發送端和數據接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成，目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路，還有幾乎不使用的×12鏈路。
更新時間:2025-06-11
pcie總線的層次組成結構與網絡中的層次結構有類似之處，但是pcie總線的各個層次都是使用硬件邏輯實現的。在pcie體系結構中，數據報文先在設備的核心層(device core)中產生，然后再經過該設備的事務層(transactionlayer)、數據鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer)，終發送出去。
更新時間:2025-06-11
pcie2.0 3.0 rx 接收 物理層致性測試當pcie設備進入休眠狀態，主電源已經停止供電時，pcie設備使用該信號向處理器系統提交喚醒請求，使處理器系統重新為該pcie設備提供主電源vcc。
更新時間:2025-06-11
pcie 初始化完成后會進入l0狀態。異常狀態見pcie link 異常log。物理層link 不穩定，懷疑以下原因：- 高速串行信號質量問題- serdes電源問題- 時鐘問題
更新時間:2025-06-11
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層致性測試集成電路的發明是人類歷史上的大創舉，它大地推動了人類的現代文明進程，在天無時無刻不在影響著我們的生活。進入 21 世紀以來，集成電路的發展則更是狂飆猛進。天的大規模集成電路生產和制造工藝已經達到 10 nm 量產水平，更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能，當然對業內從業者來說遇到的挑戰和問題也就越來越嚴峻。
更新時間:2025-06-11
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層致性測試在個處理器系統中，般提供×16的pcie插槽，并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號線組成32對差分信號，其中16對petxx信號用于發送鏈路，另外16對perxx信號用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號。
更新時間:2025-06-11
pcie1.0x4 眼圖測試 物理層致性測試日益降低的信號幅度必將帶來信噪比(snr)的挑戰，也即隨著信號幅度越來越低，對整個 電路系統的噪聲要求也越來越嚴格。尤其是在近 3 年來越來越熱的pam 調制，比如廣泛用于 200g/400g 傳輸的 pam-4 技術，由于采用 4 電平調制，其對信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.
更新時間:2025-06-11
pcie1.0x8 眼圖測試 物理層致性測試ci總線定義了兩類配置請求，個是type00h配置請求，另個是type 01h配置請求。
更新時間:2025-06-11
pcie1.0x16 眼圖測試 物理層致性測試電子產品發展到當的時代，工程界已經積累了很多實踐經驗，再搭上互聯網大力 發展的快車，每位工程師都可以很輕松地從其他人的工程經驗分享中獲得很多有價值和 有助于自己設計的經驗，但是經驗并不是金科玉律，也不是都適合工程師特殊的設計需求。
更新時間:2025-06-11
pcie3.0x4 眼圖測試 物理層致性測試下面是個 ddr3 設計的實際案例。按照傳統的方式進行設計時，工程師會按照主芯片給的設計規范進行設計。結合項目工程的需要，其 ddr3 的采用的是 t 型的拓撲結構， ecc 放置在如下圖 5 圓圈中所示位置。在生產完成后的調試過程中，發現 ddr3 的信號出現非單調性。
更新時間:2025-06-11
pcie3.0x8 眼圖測試 物理層致性測試deviceid和vendor id寄存器這兩個寄存器的值由pcisig分配，只讀。其中vendor id代表pci設備的生產廠商，而device id代表這個廠商所生產的具體設備。如xilinx公司的k7，其vendor id為0x10ee，而device id為0x7028。
更新時間:2025-06-11
pcie3.0x16 眼圖測試 物理層致性測試獲得的信號波形沒有出現非單調的情況。按照以上設計改板后的測試結果與仿真 致。 如果不進行仿真，那么只能在產品設計完成之后進行測試才能發現問題，如果要改善， 只能再改板調整，還可能出現改板很多次的情況，這樣就會延遲產品上市時間并增加物料成本。
更新時間:2025-06-11
具有全自動失真度測量功能，信號頻率自動測量，顯示， 內部自動校準，自動跟蹤濾波。 可測量的小失真度達0.005%。 具有自動測量信/雜比（sinad)和信/噪比（s/n)的功能。 具有測量平衡信號或不平衡信號的功能。 設有示波器輸出監視插孔，方便使用者觀察被測信號的波形。 可選rs-232接口
更新時間:2025-06-11
性能提升的中檔電感測量儀 簡便操作與強大功能的合理結合 讀數穩定性好 高達16次/的測量速度 鍵盤鎖定功能 30ω、100ω兩種輸出阻抗 提供rs-232c接口 分選及handler接口可選樣
更新時間:2025-06-11
性能提升的中檔電容測量儀 良好的測試穩定性 抗沖擊能力強 合理的功能配置 固定的輸出阻抗，特別適合陶瓷電容器的測量 鍵盤鎖定功能 30ω、100ω兩種輸出阻抗 rs232、handler接口
更新時間:2025-06-11
簡便操作與強大功能的合理結合 采用smt表面貼裝工藝提升了儀器的可靠性 大型用白色背光lcd顯示屏 100hz～100khz,8個典型測試頻率 0.1v、0.3v、1.0v三個典型測試電平 30ω/100ω兩種可選源阻抗,便于兼容不同lcr表的測試一致性 配置rs232接口和handler接口
更新時間:2025-06-11
泰克tektronix 以太網一致性測試夾具 泰克tektronix 以太網一致性測試夾具，硬件測試，ddr測試，時序測試，紋波測試，抖動測試
更新時間:2025-06-11
mipi傳輸過程中的信號質量問題mipi是2003年由arm，nokia，st，it等公司成立的個聯盟，旨在把手機內部的接口如存儲接口，顯示接口，射頻/基帶接口等標準化，減少兼容性問題并簡化設計。
更新時間:2025-06-11
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試基于示波器的當抖動測量工具在條通道上只提供個眼圖。在通用測量中，這些工具只有6-8個測量項目。dpojet全面支持所有通道，包括同時測量每條通道的眼圖。
更新時間:2025-06-11
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試 mipi傳輸過程中的信號質量問題 mipi驅動問題 重起問題
更新時間:2025-06-11
硬件工程師調試mipi屏經驗 mipi 接口的sensor問題 mipi接口的dsi的驅動問題
更新時間:2025-06-11
mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決 mipi調試經驗 mipi硬件開發 mipi驅動
更新時間:2025-06-11
mipi調試經驗 mipi硬件開發 mipi驅動 硬件工程師調試mipi屏經驗 mipi 接口的sensor問題
更新時間:2025-06-11
mipi攝像頭 mipi眼圖測試 mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決從軟件層面，再回顧下數據格式，加深在數據線上有3 種可能的操作模式：escape mode, high-speed (burst) mode and control mode，下面是從停止狀態進入相應模式需要的時序：
更新時間:2025-06-11
解決mipi屏黑屏問題 mipi調試過程 mipi接口屏閃屏的測試 分析與解決方法依據ccir編碼表，sav和evav之間的保護數據是被編碼過的，使用這種方法，編碼器可以糾正1-bit錯誤，可以檢查2-bit的錯誤。該特征只是在csi的ccir編碼中，僅僅是奇偶交錯模式中支持。
更新時間:2025-06-11
分析與解決方法 mipi c-phy d-phy 眼圖測試當幀結束或者是個在rxfifo中的完整的幀數據被全部讀出時，eof中斷就產生了，eof并不在csi的prp模式中使用。該中斷是用在ccir奇偶域交錯的模式下使用，該中斷當field 1 和field 2交錯的時候產生。f1_int和f2_int會產生
更新時間:2025-06-11
解決mipi屏黑屏問題 mipi調試過程 mipi接口屏閃屏的測試bayer數據是個從圖像傳感器獲得典型的行數據。該數據寬度定要通過軟件轉化為rgb空間或者是yuv空間的數據格式。pack_dir bit設置為0，表示系統是小端，不是大端系統。使用p0,p1,p2,p3存放了打包了的數據內容，p0是個data,依次，p3是個data.
更新時間:2025-06-11
mipi clk眼圖 data眼圖測試與分析 解決mipi屏黑屏問題mx27提供了個非常業的攝像頭csi接口，可以配置相關的口進行接口匹配。我們的攝像頭是ov9660，輸出設定為yuv模式，因此，csi獲取的數據也是yuv格式的數據，因此還需要通過軟件，將yuv的格式轉化為rgb565、rgb656、rgb888格式放到lcdc對應的memory進行顯示輸出。
更新時間:2025-06-11
mipi c-phy d-phy 眼圖測試 mipi屏 初始化指令問題像素可以放映到你的抓圖上面的大小，該像素就是說明你的cmos或者是ccd感光元件的像素點多少，可以想象在相同的面積上，數量越多，感光元件肯定要越小，感光元件小，那么圖像的質量其實會變差，這個當然可以理解，但是從大的方面來說，只要鏡頭好，光源充足，那么效果也會變好，這樣畫面就比像素低的更加的細膩，所以高像素的好處就在這里。
更新時間:2025-06-11
mipi眼圖 數據 clk眼圖 data眼圖測試與分析 解決mipi屏黑屏問題 mipi調試過程mx27提供了個非常業的攝像頭csi接口，可以配置相關的口進行接口匹配。
更新時間:2025-06-11
梅特勒電極ha405-dpa-sc-s8/120（有問題，產品上留有碎渣） 硬件開放實驗室 開放實驗室 儀器租賃
更新時間:2025-06-11
emmc 上電時序測試 電源紋波測試emmc 芯片下方在敷銅時，焊盤部分要增加敷銅禁布框，避免銅皮分布不均影響散熱，導致貼片虛焊。
更新時間:2025-06-11
emmc 時鐘測試 數據信號測試電源紋波測試過大的問題通常和使用的探頭以及端的連接方式有關。先檢查了用戶探頭的連接方式，發現其使用的是如下面左圖所示的長的鱷魚夾地線，而且接地點夾在了單板的固定螺釘上，整個地環路比較大。由于大的地環路會引入更多的開關電源造成的空間電磁輻射噪聲以及地環路噪聲，于是更換成如下面右圖所示的短的接地彈簧針。
更新時間:2025-06-11
emmc 復位測試 clk測試 dqs測試這是個典型的電源紋波測試的問題。我們通過使用短的地線連接、換用低衰減比的探頭以及帶寬限制功能使得紋波噪聲的測試結果大大改善。
更新時間:2025-06-11
emmc4 上電時序測試 電源紋波測試 時鐘測試 數據信號測試實際上就是把電纜的頭接在示波器上，示波器設置為50歐姆輸入阻抗；電纜的另頭剝開，屏蔽層焊接在被測電路地上，中心導體通過個隔直電容連接被測的電源信號。這種方法的優點是低成本，低衰減比，缺點是致性不好，隔直電容參數及帶寬不好控制。
更新時間:2025-06-11
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