Compact eco X-射線熒光分析測厚儀
Compact eco X-射線熒光分析測厚儀能提供一般鍍層厚度和元素分析功能,不單性能,而且價錢超值.,分析鍍層厚度和元素成色同時進行,只需數秒鐘,便能非破壞性地得到的測量結果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任. 輕巧的樣品室,適合不同大小的樣品,功能實用,性高,是五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的. 備有Compact eco , Compact 5 , Mixx4 , Mixx5等型號選擇，可測量各類金屬層、合金層厚度，附帶功能：合金成份分析，電鍍液成份分析，中文簡體、繁體、英文操作系統(tǒng)。
Compact eco X-射線熒光分析測厚儀可測元素范圍：
鈦(Ti) – 鈾(U)
Compact eco X-射線熒光分析測厚儀可測量厚度范圍：
原子序22-25，0.1-0.8μm
26-40，0.05-35μm
43-52，0.1-100μm
72-82，0.05-5μm
Compact eco X-射線熒光分析測厚儀
自動測量功能：編程測量，自定測量
修正測量功能：底材修正，已知樣品修正
定性分析功能：光譜表示，光譜比較
定量分析功能：合金成份分析
數據統(tǒng)計功能：x管理圖，x-R管理圖，直方柱圖。
Compact eco X-射線熒光分析測厚儀綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析
鍍層分析:可分析三層厚度,獨有的FP分析軟件,真正做到無厚度標準片亦能進行測量(需要配合純材料),為您大大節(jié)省購買標準片的成本.超越其他品牌的所謂FP軟件.
鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,無需購買標準藥液.
定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.
光譜對比功能:可將樣品的光譜和標準件的光譜進行對比,可確定樣品與標準件的差別,從而控制來料的純度.
統(tǒng)計功能:能夠將測量結果進行系統(tǒng)分析統(tǒng)計,方便的控制品質.
多年來，我們一直于為PCB 廠商，電鍍行業(yè)，科研機構，半導體生產等電子行業(yè)提供高性能的儀器和的售后服務。讓客戶滿意，為客戶創(chuàng)造最大的價值是我們始終追求的目標，因為我們堅信，客戶的需要就是我們前進的動力。愿我們成為真誠的合作伙伴、共同描繪雙方的發(fā)展藍圖！
關鍵詞：
X射線 鍍層測厚儀 X-RAY
我公司是一精密測試儀器代理商，為香港儀高集團附屬成員. 我集團在中國和香港地區(qū)獨家代理韓國MICRO PIONEER XRF-2000系列X-射線測厚儀及德國ROENTGENANALYTIK Compact eco系列X-射線測厚儀。此兩種儀器主要用于鍍層或涂層厚度的測量，而且特別適合于對微細表面積或超薄鍍層的測量。以下是我集團的其他主要產品：
美國INNOVX伊諾斯XRF-6500 RoHS分析儀
美國OMEGA 600SMD離子污染測試儀
美國UPA / VEECO非破壞性厚度測試儀
美國WALCHEM（禾威）電鍍藥液自動添加系統(tǒng)
美國CECO PCB基材測試系統(tǒng)
美國ECI電鍍藥液分析系統(tǒng)
美國EXTEC研磨 / 拋光器材及消耗品
美國UNITRON工業(yè)用顯微鏡系統(tǒng)及表面光滑度測試儀
美國DICKSON溫濕度記錄儀
美國SPELLMAN 高壓電源供應器
日本KETT磁感/高周波涂層測試儀
日本KYORITSU水質離子測試包
英國JENWAY分光光度計
韓國SEC X-射線透視檢查儀
德國SCANDIA研磨 / 拋光器材及消耗品
德國WTW實驗室 / 工業(yè)用水質檢查系統(tǒng)
俄羅斯PTH-1/ITM-52手提式線路板孔銅測厚儀
新加坡Qmax CIMS 特性阻抗測試儀
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